NanoIR - topografie a IR spektroskopie v nm měřítku

Nový systém nanoIR od firmy Anasys Instruments v sobě spojuje nano prostorové rozlišovací schopnosti mikroskopie atomárních sil (AFM) s infračervenou spektroskopií schopnou charakterizovat a identifikovat chemické látky. Tento nový účinný nástroj umožňuje měřit a mapovat místní chemické složení s rozlišením pod difrakčním limitem a provádět topografické, mechanické a termické analýzy v nano-metrovém (nm) měřítku.

Možnosti měření

Multifunkční měření systémem nanoIR umožňují získat kompletnější obraz vzorku - lze mapovat topografické, spektroskopické, mechanické a tepelné vlastnosti vzorku. Topografické měření s vysokým rozlišením se provádí pomocí AFM, zatímco metoda foto-termálně indukovaná rezonance (PTIR - Photo Thermal Induced Resonance) dovoluje získat chemickou charakteristiku pomocí infračervené spektroskopie. PTIR metoda umožňuje také kontaktní měření rezonanční frekvence, které umožňuje současné mapování mechanických vlastností.

Při typickém měření se nejprve charakterizuje topografie následovaná měřením několika IR spekter na různých místech vzorku. Případně lze naladit IR laser na fixní vlnovou délkou a změřit rozložení chemických látek v celém vzorku.

První evropský systém byl instalován v aplikaci laboratoř firmy LOT-Oriel v Darmstadtu na konci roku 2010. Těšíme se na vaše žádosti ohledně testování nanoIR systému a na žádosti o provedení testů Vašich zkušebních vzorků za účelem vyhodnocení výkonu této nové technologie pro Váš vědecký obor.

Vzorky a prohlídka systému

V případě, že máte zájem otestovat Vaše vzorky nebo si prohlédnout systém v aplikační laboratoři, kontaktujte nás, případně napište přímo Ing. Jandíkovi (jandik@lao.cz)

27.6.2011
Překlad: Ing. Miroslav Novák, novak@lao.cz
Zdroj: LOT-Oriel, Spektrum E13